測量系統特點:
· 上表⾯反射率獨立測量,
· 完整的光譜分析和顔⾊測量(X.Y.Z, L* a* b*)
· 實現産綫⾼速測量及mapping分析鍍膜均勻性
· 可量測到500μm厚度的玻璃
應⽤:
‧ 平⾯顯⽰器保護玻璃測量
· 抗反射鍍膜玻璃測量，反射率, X.Y.Z, L*a*b* ...反射光譜等光學參數
‧ 觸控⾯板玻璃測量
‧ 光學濾鏡/鏡頭鍍膜
X-Y 軸
· 架構：高精度循環式線性模組 (含滾珠螺桿、滑軌)
· 行程：1150mm*850mm
· 解析度：1um
· 精度：±15um以內
· 重覆性：誤差小於 ±10um
· 平台尺寸：122(D) x 155(W) x 1(H) cm
· 材質：機架--鋁合金；置片平台--鐵氟龍
· 平整度：±50um在122x155cm面積
· 外觀尺寸：120(D) x 155(W) 209(H) cm (不含信號燈)
