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特点
· 2”-6”Wafer Leve LED EL特性量测系统, 可量测亮度, 波长, 色座标, 半高宽, 电性参数等
· LED Wafer单点, 多点, 或是固定点位多样测试平台搭配(平台: M2442, PG101EL)
· 电子式切换开关, 接触电阻低, 使用寿命长(M2442)
· 可搭配多种品牌光谱测试仪,达到自动测试, 数据储存分析等功能
维明LED617HC测试系统规格
GAMMA分光光谱仪规格